浙江测厚仪-一六仪器有限公司-涂层测厚仪

江苏一六仪器  选择x荧光光谱镀层检测仪的四个理由：

1、无损检测

      镀层工艺的高要求，让楔切法、光截法等传统的破坏性检测方法越来越不适用，市场上迫切需要一种快速、准确、无损的检测方法，而x射线荧光光谱法无非是excellent镀层无损检测方法。

2、强化品质---

     x荧光光谱镀层检测仪可以准确检测镀层的金属含量及厚度等数据，这是做好电镀品质---的前提。

3、提升生产力

      传统的检测技术，既耗时又耗人力，而x荧光光谱镀层检测仪可以很大程度上解放劳动力，且检测速度快、精度高，这对提高电镀企业生产力、节约成本有很大帮助，从而带来更多的经济效益。

4、提升市场竞争力

    x荧光光谱镀层检测仪不但可以帮助电镀企业提升劳动生产力，也可以帮助电镀企业在行业里保持excellent的竞争优势。

一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集，---efp算法  x射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，led和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.efp算法结合---定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

薄膜是指在基板的垂直方向上所堆积的1～104的原子层或分子层。在此方向上，浙江测厚仪，薄膜具有微观结构。

     理想的薄膜厚度是指基片表面和薄膜表面之间的距离。由于薄膜仅在厚度方向是微观的，荧光测厚仪，其他的两维方向具有宏观大小。所以，表示薄膜的形状，一定要用宏观方法，即采用长、宽、厚的方法。因此，膜厚既是一个宏观概念，又是微观上的实体线度。

      由于实际上存在的表面是不平整和连续的，而且薄膜内部还可能存在着、杂质、晶格缺陷和表面吸附分子等，所以，要严格地定义和测量薄膜的厚度实际上是比较困难的。膜厚的定义应根据测量的方法和目的来决定。  

---模型认为物质的表面并不是一个抽象的几何概念，而是由刚性球的原子（分子）紧密排列而成，是实际存在的一个物理概念。

形状膜厚：dt是接近于直观形式的膜厚，通常以um为单位。dt只与表面原子（分子）有关，镀层测厚仪，并且包含着薄膜内部结构的影响；

膜厚：dm反映了薄膜中包含物质的多少，通常以μg/cm2为单位，涂层测厚仪，它消除了薄膜内部结构的影响（如缺陷、、变形等）；

物性膜厚：dp在实际使用上较有用，而且比较容易测量，它与薄膜内部结构和外部结构无直接关系，主要取决于薄膜的性质（如电阻率、透射率等）。