荧光测厚仪-一六仪器-上海测厚仪

一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集，镀层膜厚仪，---efp算法  x射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，led和照明，上海测厚仪，家用电器，通讯，汽车电子领域.efp算法结合---定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

能量色散x荧光光谱仪定义及原理

x射线荧光光谱仪是一种可以对多元素进行快速同时测定的仪器。试样受x射线照射后，其中各元素原子的内壳层（k，l或m层）电子被激发逐出原子而引起电子跃迁，膜厚测试仪，并发射出该元素的特征x射线荧光。每一种元素都有其特定波长的特征x射线。能散型x射线荧光光谱仪（edxrf）利用荧光x射线具有不同能量的特点，由探测器本身的能量分辨本领来分辨探测到的x射线。

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um

镀层厚度分析仪根据测量原理一般有以下五种类型:

1.磁性测厚法

适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为：钢、铁、银、镍。此种方法测量精度高。

2.涡流测厚法

适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种方法较磁性测厚法精度低。

3.超声波测厚法

目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的，国外个别厂家有这样的仪器，适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵，测量精度也不高。

4.电解测厚法

此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要破坏涂镀层。一般精度也不高。测量起来较其他几种麻烦。

5.测厚法

此种仪器价格昂贵，适用于一些特殊场合。