一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集,镀层膜厚仪,---efp算法 x射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件,led和照明,镀层分析仪,家用电器,电镀膜厚仪,通讯,汽车电子领域.efp算法结合---定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
常规镀层厚度分析仪的原理
对材料表面保护、装饰形成的覆盖层,如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等,在有关和---中称为覆层(coating)。覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程检测的重要一环,是产品达到优等标准的---手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对覆层厚度有了明确的要求。
覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,x射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。
江苏一六仪器 x射线荧光光谱仪xtu/x-ray系列
技术参数
x射线装置:w靶微---加强型射线管
准直器φ 0.05 mm ;φ 0.1 mm;φ 0.2 mm;φ 0.5 mm; 准直器任意选择或者任意切换
近测距光斑扩散度:9%
测量距离:具有距离补偿功能,福州测厚仪,可改变测量距离,能测量凹凸异型样品,变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)
样品观察:1/2.5彩色ccd,变焦功能对焦方式高敏感镜头,手动对焦
放大倍数:光学38-46x,数字放大40-200倍
随机标准片:十二元素片、ni/fe 5um、au/ni/cu 0.1um/2um
其它附件:联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱
江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们---研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名---通力合作,研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪
x射线荧光光谱测厚仪定量分析
利用荧光x射线进行定量分析的时候,大致分为3个方法。一个是制作测量线的方法(经验系数法)。这个方法是测定几点实际的已知浓度样品,寻求想测定元素的荧光x射线强度和浓度之间的关系,以其结果为基础测定未知样品取得荧光x射线,从而得到浓度值。
另一个方法是理论演算的基础参数法(fp法)。这个方法在完全了解样品的构成和元素种类前提,利用计算的各个荧光x射线强度的理论值,推测测定得到未知样品各个元素的荧光x射线强度的组成一致。
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