涂层测厚仪-一六仪器-南京测厚仪

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素   厚度检出限:0.005um

工业x射线镀层厚度分析仪以其快速、无损、现场测量等优点，已在冶金、建材、地质、、商检、考古、医学等领域得到迅速推广和应用。近几年来x射线荧光仪已在工业镀层及涂层厚度测量中应用越来越广泛。众所周知，产品和金属元件表面镀层或防腐层厚度是与产品与性能相关的重要指标。实验表明使用同位素x射线荧光分析方法，能够满足工业镀层和涂层厚度的分析要求，并且具有无损、在线、简便快速、可实现自动控制等特点。

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um

（一）、外部结构原理图

x荧光做镀层分析时，光谱膜厚仪，根据射线是而下照射样品，还是至下而上照射样品的方式，将x荧光分析仪的外部整体结构分为：上照射和下照射两种结构。

（二）、各种外部结构的特点

1、上照射方式

   用于照射(激发)的x射线是采用由上往下照射方式的设备称为上照射仪器。此类设备的z轴为可移动方式，用于确定射线照射光斑的焦点，镀层测厚仪，---测量的准确性。

、z轴的移动方式

   根据z轴的移动方式，分为自动和手动两类；

自动型的设备完全由程序与自动控制装置实现，其光斑对焦的重现性与准确度都---，而且使用非常简便（一般是与图像采集系统与控制系统相结合的方式），一般只需要用鼠标在图像上---一下即可定位。此类设备对于测试形状各异的样品非常方便，也是目前主流的分析设备类型。

、x、y轴水平移动方式

水平移动方式一般分为：无x、y轴移动装置；手动x、y轴移动装置；电动x、y轴移动装置；全程控自动x、y轴移动装置。

这几类的设备都是根据客户实际需要而设计的，例如：使用无x、y轴移动装置的也很多，结构简单，南京测厚仪，样品水平移动完全靠手动移动，这种设备适合于样品面积较大，定位比较容易的测试对象。