一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集,---efp算法 x射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件,led和照明,家用电器,测厚仪,通讯,汽车电子领域.efp算法结合---定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
在我们的售前服务工作中,客户通常都会拿一些在其它机构或者仪器测量过的样品来与我们仪器进行测试结果对比,在确认双方仪器都是正常的情况下,会存在或多或少的差异,测厚仪厂家,那么我们务---把这个差异的来源分析给客户,我们在分析之前首先要给客户解说测试的基本原理,告知此仪器为对比分析测试仪器,然后再谈误差来源,主要来源:
1、标样:对比分析仪器是要求有越接近于需测试样品的标样,测试结果越接近实际厚度。确认双方有没有在标定和校正时使用标样?使用的是多少厚度的标样?
2、样品材料的详细信息:如ni/cu的样品,如果一家是按化学ni测试,一家是按纯ni测试;au/ni/cu/pcb样品,一款仪器受br干扰,一款仪器排除了br干扰。
3、测量位置、面积:确定在同一样品上测试的是否同一位置,因为样品在电镀时因电位差不同,荧光测厚仪,各部位厚度是有差异的;确认两款仪器测量面积的大小有多少差异。
4、样品形状:测量的样品是否是两款仪器都可测量,或者放置位置是否合适,如---面有无挡住设备接收。
江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们---研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名---通力合作,研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪
x荧光镀层测厚仪金属成分含量的测定
在包含某种元素1的样品中,照射一次x射线,就会产生元素1的荧光x射线,涂层测厚仪,不过这个时候的荧光x射线的强度会随着样品中元素1的含量的变化而改变。元素1的含量多,荧光x射线的强度就会变强。注意到这一点,如果预先知道已知浓度样品的荧光x射线强度,就可以推算出样品中元素1的含量。采用定量分析的时候,可以在样品中加入高纯度的二氧化硅,作为参比样,并且掺量是已知的。这样可以间接知道其他组分的含量。
江苏一六仪器 x荧光光谱测厚仪
下照式设计:可以快速方便地定位对焦样品。
无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测,凹槽---范围0-90mm。
微---射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品,可测试各微小的部件。
接收:即使测试0.01mm2以下的样品,几秒钟也能达到稳定性。
精密微型滑轨:快速---定位样品。
efp---算法软件:多层多元素,甚至有同种元素在不同层也难不倒efp算法软件。
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