台州测厚仪-一六仪器有限公司-膜厚测试仪

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um

x荧光测厚仪可调整测量位置，台州测厚仪，非常敏捷快速。或是测量位置已完成登陆时，可连续自动测定，利用座标补正、连结频道，来应付各种测量轨迹。亦可用自动测定来作标准片校正。

　　测定部显示尽像的表示：x线照射部可由windows画面上取得照射部的表示。从准仪照射测定物的位置，膜厚测试仪，可由倍率率更机能来实现尽面上测出物放大。。。

      江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们---研发团队具备十年以上的从业经验，光谱测厚仪，经与海内外多名---通力合作，研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪

      x射线荧光光谱测厚仪定量分析

利用荧光x射线进行定量分析的时候，大致分为3个方法。一个是制作测量线的方法(经验系数法)。这个方法是测定几点实际的已知浓度样品，寻求想测定元素的荧光x射线强度和浓度之间的关系，以其结果为基础测定未知样品取得荧光x射线，从而得到浓度值。

      另一个方法是理论演算的基础参数法(fp法)。这个方法在完全了解样品的构成和元素种类前提，利用计算的各个荧光x射线强度的理论值，推测测定得到未知样品各个元素的荧光x射线强度的组成一致。