金华测厚仪-一六仪器1-涂层测厚仪

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，涂层测厚仪，24种元素   厚度检出限:0.005um

工业x射线镀层厚度分析仪以其快速、无损、现场测量等优点，已在冶金、建材、地质、、商检、考古、医学等领域得到迅速推广和应用。近几年来x射线荧光仪已在工业镀层及涂层厚度测量中应用越来越广泛。众所周知，产品和金属元件表面镀层或防腐层厚度是与产品与性能相关的重要指标。实验表明使用同位素x射线荧光分析方法，金华测厚仪，能够满足工业镀层和涂层厚度的分析要求，并且具有无损、在线、简便快速、可实现自动控制等特点。

      江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们---研发团队具备十年以上的从业经验，光谱测厚仪，经与海内外多名---通力合作，研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪 

     江苏一六仪器   能量色散x射线荧光光谱测厚仪 

x射线的产生利用x射线管(图2)，施加高电压以加速电子，使其冲撞金属阳极(对阴极)从而产生x射线。从设计---为横窗型(side window type)和纵窗型(end window type)两种x射线管，都是设计成能够把x射线均匀得照射在样品表面的结构。

x射线窗口，一般使用的是铍箔。阴极(也叫做:靶材)则多使用是钨(w)、铑(rh)、钼(mo)、铬(cr)等材料。这些靶材的使用是依据分析元素的不同而使用不同材质。原则---析目标元素与靶材的材质不同。