光谱分析仪-测厚仪-一六仪器

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激光测厚仪技术指标：

     可测范围：0～500mm

      较：0.5μm

     测量速度：较高9400hz

     测量距离：10～200mm

     被测体水平方向运动速度较高560m/min

一六仪器_光谱测厚仪研发生产厂家一六仪器一liu品质，可同时检测多层材料镀层厚度(含有机物)及成分.操作简单方便.厚度含量测试只需要几秒钟，多小多复杂的样品轻松搞定，欢迎来电咨询!

常见几种测厚仪的工作原理是什么：

2、测厚仪原理--x射线测厚仪

     x射线测厚仪：此类测厚仪利用的是当x射线穿透被测材料时，x射线强度的变化与材料厚度相关联的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。

     3、测厚仪原理--超声波测厚仪

     超声波测厚仪：这种测厚仪是根据超声波脉冲反射的原理来对物体厚度进行测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，测厚仪，脉冲会发生反射而返回探头，通过准确测量超声波在材料中传播的时间，来计算被测材料的厚度。