一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(ci)- ---(u) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
江苏一六仪器 x荧光测厚仪测试要求:
工作要求:
1 环境温度要求:15℃-30℃
2 环境相对湿度:<70%
3 工作电源:交流220±5v
4 周围不能有强电磁干扰。
5 max功率 :330w
6 外形尺寸 :550 mm x 480mm x 470 mm (长x宽x高)
7 样品仓尺寸 :500mm×360 mm ×215mm (长x宽x高)
8 仪器重量 :55kg
9 分析软件efp,可同时分析23层镀层,24种元素,电镀膜厚仪,不同层有相同元素也可分析
10 软件操作人性化封闭软件,自动提示校正和步骤,光谱测厚仪,避免操作错误
11 x射线装置:w靶微---加强型射线管
江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。我们---研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名---通力合作,镀层膜厚仪,研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、---的解谱方法和efp算法结合---定位及变焦结构设计,解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
目前,金属镀层常用的分析方法有湿化学电解分析、辉光放电---发射光谱分析(gd-oes)和x射线荧光光谱仪等。湿化学电解分析需选用适当溶剂溶解选定的镀层,逐层溶解并进行测定,常州测厚仪,方法准确但费时费力,尤其是相关特定溶剂的选择也非常复杂,价格又贵,属于典型破坏性样品检测,测量手段手段繁琐,速度慢,电解液耗损大,目---般很少应用。gd-oes方法用惰性原子逐层轰击及剥离试样表层,再用发射光谱测定,这种方法可实现剖面或逐层分析,但测量重复性并不理想。
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(ci)- ---(u) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
镀层厚度分析仪根据测量原理一般有以下五种类型:
1.磁性测厚法
适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢、铁、银、镍。此种方法测量精度高。
2.涡流测厚法
适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种方法较磁性测厚法精度低。
3.超声波测厚法
目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵,测量精度也不高。
4.电解测厚法
此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层。一般精度也不高。测量起来较其他几种麻烦。
5.测厚法
此种仪器价格昂贵,适用于一些特殊场合。
镀层膜厚仪-常州测厚仪-江苏一六仪器有限公司由江苏一六仪器有限公司提供。江苏一六仪器有限公司有实力,---,在江苏 苏州 的---仪器仪表等行业积累了大批忠诚的客户。公司精益---的工作态度和不断的完善---理念将促进一六仪器和您携手步入,共创美好未来!
联系我们时请一定说明是在100招商网上看到的此信息,谢谢!
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