江苏一六仪器 x射线荧光镀层测厚仪
仪器简介
xtu系列测厚仪虽然结构紧凑,光谱膜厚仪,但是都有大容量的开槽设计样品腔,膜厚测试仪,即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。
搭配微---射线管和---的光路设计,以及变焦算法装置,可测试极微小和异形样品。
检测78种元素镀层·0.005um检出限·测量面积可达0.002mm2·深凹槽可达90mm。
外置的高精密微型滑轨,可以快速控制样品移动,移动精度0.005mm,速度10-30mm(x-y)/圈,再小再多的样品测试都没有难度,让操作人员轻松---。
应用领域线路板、引线框架及电子元器件接插件检测
镀纯金、k金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析
手表、精密仪表制造行业
钕铁硼磁铁上的ni/cu/ni/fendb
汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测
卫浴产品、装饰把手上的cr/ni/cu/cuzn(abs)
电镀液的金属阳离子检测
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(ci)- ---(u) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
x荧光测厚仪相关注意事项:
仪器供电电压必须与仪器品牌上的电压一致.仪器三线插头必须连接到已接地的插座上。
本仪器为精密仪器,电镀膜厚仪,配备的稳压电源.计算机应配备不间断电源(ups)。
仪器应---注意与存在电磁的场合隔离开来。
为避免短路,严禁仪器与液体直接接触,如果液体进入仪器,请立即关闭仪器。
本仪器不能用于酸性环境和场合。
不要弄脏和刮擦调校标准片,否则会造成读数错误。
不要用任何机械或化学的方法清除调校片上的脏物,可以用不起毛的布轻轻擦拭。
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(ci)- ---(u) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,威海测厚仪,24种元素 厚度检出限:0.005um
(一)、内部结构
x荧光光谱测厚仪机型很多,但是其内部结构如果先天不足,后期的外部结构无论自动化多高,也无法完全满足客户需求。内部结构重要的3点:
1、x荧光发射和ccd观测是否同步和垂直?
2、测试样品是否可以变化测头到样品的距离?
3、x光照射面积从出口到样品的扩散情况。
(二)、各种内部结构的优缺点
1、x荧光发射和ccd观测样品只有同步且垂直才不会因为样品的高低深浅变化而改变测试到样品的位置,才能---定位---,同时减少与探测器或计数器的夹角,夹角小测试时
受样品曲面或者倾斜影响小。
2、测试样品距离可变化才能测试高低不平带凹槽的样品工件,同时也---好平面样品的测试。但是它需要配备变焦镜头和变焦
补偿射线的算法。
3、x光照射面积从出口到样品的扩散过于---会导致无法测试样品工件上较小的平面位置,如果减小出口(准直器直径),又会---耗损x光的强度。
因此一台此类仪器的小准直器不是关键,但是测试面积却是个重要的指标。
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