衢州测厚仪-一六仪器有限公司-镀层分析仪

江苏一六仪器  ---通力合作打造---x荧光测厚仪 稳定的多道脉冲分析采集系统，---------和变距设计，多元efp算法，简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例

能量色散x射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级x射线。

它由高压发生器和x光管组成。后者功率较大，用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的x射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。

能量色散x射线荧光光谱仪技术原理

能量色散x射线荧光光谱仪是一种波长较短的电磁辐射，凡间是指能t局限在0.1^-100kev的光子。能量色散x射线荧光光谱仪与物质的互相效果首要有荧光、接收和散射三种。

能量色散x射线荧光光谱仪是由物质中的构成元素发生的特征辐射，光谱分析仪，经过侧里和剖析样品发生的x射线荧光，即可获知样品中的元家构成，获得物质成分的定性和定量信息。

一六仪器---镀层测厚仪|光谱测厚仪|x-ray测厚仪|x荧光测厚仪|凃层膜厚仪

仪器规格：

外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （长x宽x高）

样品仓尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （长x宽x高）

仪器重量 ：55kg

供电电源 ：交流220±5v

da功率 ：330w

环境温度：15℃-30℃

环境相对湿度：<70%

测厚仪和膜厚仪一样吗

   测厚仪和膜厚仪是不一样的，膜厚仪属于测厚仪的分类，也就是说测厚仪是膜厚仪的上司一样，对此我们也可以来了解下测厚仪跟膜厚仪的一些概念：

测厚仪按原理分类:激光测厚仪、超声波测厚仪、x射线测厚仪、压力测厚仪、白光干涉测厚仪、电解式测厚仪、机械接触式测厚仪。

测厚仪的原理：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量，当探头发射超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过准确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。