测厚仪厂家-舟山测厚仪-江苏一六仪器有限公司

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，舟山测厚仪，24种元素 厚度检出限:0.005um

（一）、外部结构原理图

x荧光做镀层分析时，根据射线是而下照射样品，还是至下而上照射样品的方式，将x荧光分析仪的外部整体结构分为：上照射和下照射两种结构。

（二）、各种外部结构的特点

1、上照射方式

   用于照射(激发)的x射线是采用由上往下照射方式的设备称为上照射仪器。此类设备的z轴为可移动方式，用于确定射线照射光斑的焦点，---测量的准确性。

、z轴的移动方式

   根据z轴的移动方式，分为自动和手动两类；

自动型的设备完全由程序与自动控制装置实现，其光斑对焦的重现性与准确度都---，而且使用非常简便（一般是与图像采集系统与控制系统相结合的方式），一般只需要用鼠标在图像上---一下即可定位。此类设备对于测试形状各异的样品非常方便，也是目前主流的分析设备类型。

、x、y轴水平移动方式

水平移动方式一般分为：无x、y轴移动装置；手动x、y轴移动装置；电动x、y轴移动装置；全程控自动x、y轴移动装置。

这几类的设备都是根据客户实际需要而设计的，测厚仪厂家，例如：使用无x、y轴移动装置的也很多，结构简单，样品水平移动完全靠手动移动，这种设备适合于样品面积较大，定位比较容易的测试对象。  

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  x射线荧光光谱分析可以非破坏性同时完成组分和厚度测试，厚度的测量范围视材料和元素而定，通常在1nm-50um之间。x射线荧光光谱法分析镀层与其常规定量分析法相比较，涂层测厚仪，被测元素的特征x射线荧光强度不仅与镀层中待测元素和基材的组成有关，而且与厚度直接相关。能量色散x射线荧光光谱分析相对其他分析方法，具有无需对样品进行---的化学处理、快速，方便，测量成本低等明显优势，---适合用于各类相关企业作为过程控制和检测使用。是目前应用为广泛，具有速度快、无损化以及可实现多镀层同时分析等特点。