测厚仪厂家-测厚仪-一六仪器

江苏一六仪器   x荧光光谱测厚仪 特点

快速：1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。

方便：x荧光光谱仪部分机型采用进口国际上---的电制冷半导体探测器，能量分辨率---于135ev，测试精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用方便，并且运行成本比同类的其他产品---。

无损：测试前后，样品无任何形式的变化。

直观：实时谱图，可直观显示元素含量。

测试范围广：x荧光光谱仪，是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析，抽真空可以测试从na到u。

---性高：由于测试过程无人为干扰因素，仪器自身分析精度、重复性与稳定性---。所以，其测量的---性更高。

满足不同需求：测试软件为windows操作系统软件，操作方便、功能---，软件可监控仪器状态，设定仪器参数，并就有多种---的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。

---：相比化学分析类仪器，x荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。

简易：对人员技术要求较低，操作简单方便，并且维护简单方便。

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素   厚度检出限:0.005um

选择elite（一六仪器）x射线荧光镀层测厚仪理由：

   根据ipc规程，必须使用整块的标准片来校正仪器，对于多镀层的测量，目前大多数客户购买的测厚仪采用的是多种箔片叠加测量校正，比如测量pcb板上的au/pd/ni/cu，测厚仪厂家，因为测量点很小，测量距离的变化对测量结果有较大影响，如果使用au，pd，ni三种箔片叠加校正，校正的时候箔片之间是有空气，测厚仪，并且pb元素与空气的频谱重叠，以上会对测量结果产生较大影响，elite（一六仪器）测厚仪有电镀好的整块的au/pd/ni/base标准片，不需要几种箔片叠加校正，可以---镀层测量的准确性。

2、采用微---x射线管，油槽式设计，工作时采用油冷，长期使用时寿命更长。微---x射线管配合比例接收能实现高计数率，可以进行测量。

3、elite（一六仪器）winftm---软件，具有---且界面友好、中英文切换，镀层测厚仪，多可同时测量23层镀层，24种元素，测量数据可直接以word格式或excel格式输出、打印、保存。采用基本参数法（fp），有内置频谱库，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确的分析和测量。

4、 elite（一六仪器）针对pcb（印制电路板）线路板上的镀层厚度及分析而设计的x射线荧光测厚仪（xdlm-pcb200/pcb210系列）具有以下特点：1）工作台有手动和程序控制供客户选择，2）采用开槽式设计和配置加长型样品平台，用于检测大尺寸的线路板。