一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集,---efp算法 x射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件,led和照明,电镀膜厚仪,家用电器,电镀测厚仪,通讯,汽车电子领域.efp算法结合---定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
这些方法中---种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。x射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有源,使用者必须遵守射线防护规范。x射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
随着技术的日益进步,---是近年来引入微机技术后,采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且---,是工业和科研使用广泛的测厚仪器。采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材,检测速度快,能使大量的检测工作经济地进行。
江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们---研发团队具备十年以上的从业经验,光谱膜厚仪,经与海内外多名---通力合作,研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪
x荧光涂镀层测厚仪测试原理
同样,l层电子被逐出可以产生l系辐射。如果入射的x 射线使某元素的k层电子激发成光电子后l层电子跃迁到k层,此时就有能量δe释放出来,且δe=ek-el,这个能量是以x射线形式释放,产生的就是kα 射线,同样还可以产生kβ射线 ,l系射线等。莫斯莱(h.g.moseley) 发现,东营测厚仪,荧光x射线的波长λ与元素的原子序数z有关,其数学关系如下: λ=k(z-s)-2 这就是莫斯莱定律,式中k和s是常数,因此,只要测出荧光x射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光x射线定性分析的基础。此外,荧光x射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(ci)- ---(u) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
(一)、外部结构原理图
x荧光做镀层分析时,根据射线是而下照射样品,还是至下而上照射样品的方式,将x荧光分析仪的外部整体结构分为:上照射和下照射两种结构。
(二)、各种外部结构的特点
1、上照射方式
用于照射(激发)的x射线是采用由上往下照射方式的设备称为上照射仪器。此类设备的z轴为可移动方式,用于确定射线照射光斑的焦点,---测量的准确性。
、z轴的移动方式
根据z轴的移动方式,分为自动和手动两类;
自动型的设备完全由程序与自动控制装置实现,其光斑对焦的重现性与准确度都---,而且使用非常简便(一般是与图像采集系统与控制系统相结合的方式),一般只需要用鼠标在图像上---一下即可定位。此类设备对于测试形状各异的样品非常方便,也是目前主流的分析设备类型。
手动型设备,一般需要用人观察图像的方式,根据参考斑点的位置,手动上下调节z轴方向,以达到准确对焦的目的。因此,往往在测试对象几何结构基本上没有变化的情况下使用比较快捷。、x、y轴水平移动方式
水平移动方式一般分为:无x、y轴移动装置;手动x、y轴移动装置;电动x、y轴移动装置;全程控自动x、y轴移动装置。
这几类的设备都是根据客户实际需要而设计的,例如:使用无x、y轴移动装置的也很多,结构简单,样品水平移动完全靠手动移动,这种设备适合于样品面积较大,定位比较容易的测试对象。
电镀测厚仪-一六仪器(在线咨询)-东营测厚仪由江苏一六仪器有限公司提供。江苏一六仪器有限公司是一家从事“测厚仪,标准片”的公司。自成立以来,我们坚持以“诚信为本,---经营”的方针,勇于参与市场的良性竞争,使“江苏一六仪器”品牌拥有------。我们坚持“服务为先,用户”的原则,使一六仪器在---仪器仪表中赢得了众的客户的---,树立了---的企业形象。 ---说明:本信息的图片和资料仅供参考,欢迎联系我们索取准确的资料,谢谢!
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