膜厚测试仪-一六仪器1-青岛测厚仪

     一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素   厚度检出限:0.005um

   江苏一六仪器  x荧光测厚仪测试要求：

工作要求：

1 环境温度要求：15℃-30℃

2 环境相对湿度：<70%

3 工作电源：交流220±5v

4 周围不能有强电磁干扰。

5 max功率 ：330w

6 外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （长x宽x高）

7 样品仓尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （长x宽x高）

8 仪器重量 ：55kg

9 分析软件efp，可同时分析23层镀层，青岛测厚仪，24种元素，不同层有相同元素也可分析

10 软件操作人性化封闭软件，自动提示校正和步骤，避免操作错误

11 x射线装置：w靶微---加强型射线管

      江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们---研发团队具备十年以上的从业经验，膜厚测试仪，经与海内外多名---通力合作，研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪

       x荧光涂镀层测厚仪测试原理

同样，l层电子被逐出可以产生l系辐射。如果入射的x 射线使某元素的k层电子激发成光电子后l层电子跃迁到k层，此时就有能量δe释放出来，镀层膜厚仪，且δe=ek-el，这个能量是以x射线形式释放，产生的就是kα 射线，同样还可以产生kβ射线 ，涂层测厚仪，l系射线等。莫斯莱(h.g.moseley) 发现，荧光x射线的波长λ与元素的原子序数z有关，其数学关系如下: λ=k(z-s)-2 这就是莫斯莱定律，式中k和s是常数，因此，只要测出荧光x射线的波长，就可以知道元素的种类，这就是荧光x射线定性分析的基础。此外，荧光x射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。