镀层分析仪-测厚仪-一六仪器1

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，镀层分析仪，24种元素 厚度检出限:0.005um

（一）、内部结构

   x荧光光谱测厚仪机型很多，但是其内部结构如果先天不足，光谱测厚仪，后期的外部结构无论自动化多高，也无法完全满足客户需求。内部结构重要的3点：

1、x荧光发射和ccd观测是否同步和垂直？

2、测试样品是否可以变化测头到样品的距离？

3、x光照射面积从出口到样品的扩散情况。

（二）、各种内部结构的优缺点

   1、x荧光发射和ccd观测样品只有同步且垂直才不会因为样品的高低深浅变化而改变测试到样品的位置，才能---定位---，同时减少与探测器或计数器的夹角，测厚仪，夹角小测试时

受样品曲面或者倾斜影响小。

2、测试样品距离可变化才能测试高低不平带凹槽的样品工件，同时也---好平面样品的测试。但是它需要配备变焦镜头和变焦

补偿射线的算法。

3、x光照射面积从出口到样品的扩散过于---会导致无法测试样品工件上较小的平面位置，如果减小出口（准直器直径），又会---耗损x光的强度。

因此一台此类仪器的小准直器不是关键，但是测试面积却是个重要的指标。

江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们---研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名---通力合作，研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪

一六仪器  x荧光光谱测厚仪

镀层分析x射线荧光光谱特点

     1.镀层分析快速、无损，对样品无需任何处理。一般测试一个点只需要数10s-1分钟，分析精度高。

     2.可测试超薄的镀层。

     3.可测试多镀层，分析精度远远高于其他测量方法。

     4.可分析合金镀层厚度。如果合金镀层成分稳定，选择合适的对比分析样品，就可以准确的分析出合金镀层的厚度。

     5.对于样品可进行连续多点测量，适合分析镀层的厚度分布情况，并可以对样品的复杂面进行测量。

     6.对分析的多镀层每层之间的材料，要求有明显的区别

     7.不可以测试超厚样品，普通金属镀层总厚度一般不超过40微米。

     8.可以对样品进行测试

     9.属于对比分析仪器，测试不同的镀层样品需要不同发镀层标样