电镀测厚仪-测厚仪-一六仪器

一六仪器x射线荧光测厚仪 研发生产厂家 品质---

江苏一六仪器有限公司研发的能量色散x荧光光谱仪具有稳定的多道脉冲分析采集系统、---的解谱方法和efp算法结合---定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析，欢迎来电咨询！

当x射线激发出试样特征x射线时，其入射电磁辐射能量必须大于某一个值才能引起其内层电子激发态从而形成空穴并引起电子的跃迁，这个值是吸收限，相当于内层电子的功函数。如果入射电磁辐射的能量低于吸收限则在任何情况下都不能激发原子内层电子并产生特征x射线。

x射线的激发

   如果要得到某元素的特征x射线，需要对元素原子内层电子进行激发，使得内层电子获得一定能量，光谱测厚仪，能够脱离原子核的束缚，膜厚测试仪，从而在内层轨道形成电子空穴，当较高能级电子填补这一空穴时，电镀测厚仪，才会发射一定能量的特征x射线，测厚仪，这个过程就是x射线的激发。

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x射线测厚仪测量精度的影响因素有哪些

首先，是x射线的高压控制箱会对测量的精度造成一定的影响。x射线测厚仪的测量原理就是通过施加高压电源出x射线，通过x射线的穿透物体时的衰减量来测量被测物体的厚度。但是高压控制箱的安装位置会对测厚仪的准确度造成一定的影响。安装的位置不当就会使测量的精度不准确波动比较明显。另外，x射线本身的衰减也会影响测厚仪的测量精度。