一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(ci)- ---(u) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,膜厚测试仪,24种元素 厚度检出限:0.005um
x荧光测厚仪可调整测量位置,非常敏捷快速。或是测量位置已完成登陆时,可连续自动测定,利用座标补正、连结频道,来应付各种测量轨迹。亦可用自动测定来作标准片校正。
测定部显示尽像的表示:x线照射部可由windows画面上取得照射部的表示。从准仪照射测定物的位置,可由倍率率更机能来实现尽面上测出物放大。。。
江苏一六仪器 x射线荧光光谱测厚仪
产品配置
x光金属镀层测厚仪标准配置为:x射线管,正比计数器﹨半导体探测器,高清---头,高度激光,信号检测电子电路。
性能指标
x射线激发系统 垂直上照式x射线光学系统
空冷式微---型x射线管,be窗
标准靶材:rh靶;任选靶材:w、mo、ag等
x射线管:管电压50kv,管电流1ma
可测元素:ci~u
检测器:正比计数管
样品观察:ccd---头
测定软件:薄膜fp法、检量线法
z轴程控移动高度 20mm
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(ci)- ---(u) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,镇江测厚仪,24种元素 厚度检出限:0.005um
x射线荧光光谱测厚仪 x射线的产生
x射线波长略大于0.5纳米的被称作软x射线。波长短于0.1纳米的叫做硬x射线。
产生x射线的简单方法是用加速后的电子撞击金属靶。撞击过程中,电子突然减速,其损失的动能(其中的1%)会以光子形式放出,形成x光光谱的连续部分,称之为制动辐射。通过加大加速电压,电子携带的能量增大,镀层分析仪,则有可能将金属原子的内层电子撞出。于是内层形成空穴,外层电子跃迁回内层填补空穴,同时放出波长在0.1纳米左右的光子。由于外层电子跃迁放出的能量是化的,光谱分析仪,所以放出的光子的波长也集中在某些部分,形成了x光谱中的特征线,此称为特性辐射。
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