测厚仪-一六仪器有限公司-镀层膜厚仪

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um

（一）、外部结构原理图

x荧光做镀层分析时，根据射线是而下照射样品，还是至下而上照射样品的方式，将x荧光分析仪的外部整体结构分为：上照射和下照射两种结构。

（二）、各种外部结构的特点

1、上照射方式

   用于照射(激发)的x射线是采用由上往下照射方式的设备称为上照射仪器。此类设备的z轴为可移动方式，用于确定射线照射光斑的焦点，---测量的准确性。

、z轴的移动方式

   根据z轴的移动方式，分为自动和手动两类；

自动型的设备完全由程序与自动控制装置实现，荧光测厚仪，其光斑对焦的重现性与准确度都---，而且使用非常简便（一般是与图像采集系统与控制系统相结合的方式），一般只需要用鼠标在图像上---一下即可定位。此类设备对于测试形状各异的样品非常方便，测厚仪厂家，也是目前主流的分析设备类型。

、x、y轴水平移动方式

水平移动方式一般分为：无x、y轴移动装置；手动x、y轴移动装置；电动x、y轴移动装置；全程控自动x、y轴移动装置。

这几类的设备都是根据客户实际需要而设计的，例如：使用无x、y轴移动装置的也很多，结构简单，测厚仪，样品水平移动完全靠手动移动，这种设备适合于样品面积较大，定位比较容易的测试对象。  

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素   厚度检出限:0.005um

江苏一六仪器   x射线荧光光谱测厚仪在电镀行业的应用

     由于每一种元素的原子能级结构都是特定的，它被激发后跃迁时放出的x射线的能量也是特定的，称之为特征x射线。通过测定特征x射线的能量，便可以确定相应元素的存在，而特征x射线的强弱（或者说x射线光子的多少）则代表该元素的含量或厚度。

      pcb线路板主要有镀金，镀镍，镀铜，镀银，镀锡等种类。其电镀工艺流程如下：

浸酸***全板电镀铜***图形转移***酸性除油***二级逆流漂洗***微蚀***二级浸酸***镀锡***二级逆流漂洗***浸酸***图形电镀铜***二级逆流漂洗***镀镍***二级水洗***浸柠檬酸***镀金***回收***2-3级纯水洗***烘干。

      对于pcb生产企业来说，厚度的有效控制能做到有效的节约成本，又能满足客户需求，做到耐氧化、耐磨等。而x射线荧光镀层测厚法是pcb工业检测电镀厚度的有效手段。下面介绍一款x射线荧光膜厚测厚仪xtu-bl。利用xrf无损分析技术检测镀层厚度的仪器就叫x射线测厚仪，又膜厚测试仪，镀层检测仪，xrf测厚仪，pcb镀层测厚仪，金属镀层测厚仪等。x射线能同时实现多镀层厚度分析。在实际应用中，多采用实际相近的镀层标注样品进行比较测量（即采用标准曲线法进行对比测试的方法）来减少各层之间干扰所引起的测试精度问题。