一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集，---efp算法 x射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件，镀层膜厚仪，led和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.efp算法结合---定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
软件算法
?大致分为3个方法。一个是制作测量线的方法（经验系数法）。这个方法是测定几点实际的已知厚度样品，寻求想测定元素的荧光x射线强度和厚度之间的关系，以其结果为基础测定未知样品取得荧光x射线，从而得到浓度值。
?另一个方法是理论演算的基础参数法（fp法）。这个方法在完全了解样品的构成和元素种类前提，利用计算的各个荧光x射线强度的理论值，推测测定得到未知样品各个元素的荧光x射线强度的组成一致。
?nbs-gsc法也称作理论alpha系数法。它是基于荧光x射线激发的基本原理，光谱膜厚仪，从理论上使用基本物理参数计算出样品中每个元素的一次和二次特征x射线荧光强度的。基于此再计算lachance综合校正系数，然后使用这些理论α系数去校正元素间的吸收增强。它与经验系数法不同，这些校正系数是从“理论”上取得的，而非建立在“经验”上。因而它也不需要那么多的标样，只要少数标样来校准仪器因子。x-ray测厚仪特点
1，价格高，机种不同，价格在10万~100万左右，可测试p（磷）~u（---），并且支持rohs及元素分析功能等。
2，无损检测，windows操作系统，荧光测厚仪，使用简便。操作快速，能适应多类镀层，大量检测，但体积较大，计算机除外约100000cm2，50000g左右。
3，测量厚度范围较广，
0.002um~100um左右，能测试5层以上膜厚，并且可以测量合金镀层，也可分析镀层元素和含量比。
4，测量精度高，1%左右，分辨率高，0.001um左右。
5，测头的面积较小，对需测的样品要求不高：0.1mmψ以下也可测量，基材厚度无要求。
6，可编程xyz测量台及大移动范围。
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(ci)- ---(u) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层，测厚仪，24种元素 厚度检出限:0.005um
用转移法测量塑胶产品上涂层时注意事项：
由于对塑胶产品上涂层的测量，如使用超声波发测量时，经常因涂层与基材发生相溶而没有较好的声波反射面，从而导致测量失败或读值---偏差。如使用切锲法，也多有使用不方便和读数困难的地方。所以目前便携式电子产品生产厂普遍使用转移法测量塑胶产品上涂层，先在产品上盖若干小条标准厚度的聚酯薄膜，再用纸基美纹胶压住两头，留出中间部分。将该产品放入喷涂线上正常喷涂、烘烤。
镀层膜厚仪-测厚仪-江苏一六仪器由江苏一六仪器有限公司提供。江苏一六仪器有限公司是江苏 苏州 ,---仪器仪表的企业，多年来，公司贯彻执行科学管理、---发展、诚实守信的方针，满足客户需求。在一六仪器---携全体员工热情欢迎---垂询洽谈，共创一六仪器美好的未来。
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