光谱膜厚仪-测厚仪-一六仪器有限公司

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江苏一六仪器    x射线荧光镀层测厚仪 为大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析提供解决方案

x射线荧光光谱测厚仪操作流程:

1.打开仪器电源 开关

2.打开测试软件

3.联机

4.打开仪器高压钥匙，观察软件界面管流值不为0值且正常上升至1000左右

5.待机30分钟

6.打开测试腔放入标准元素片ag，通过调整移动平台滑轨和焦距旋钮使软件测试画面清晰

7.---峰位校正图标按照提示进行操作

8.根据已知样品信息新建（或选择）合适的产品程式

9.---资料图标，根据客户需求调整相关测量参数

10.放置样品：打开测试腔，将样品需要测试的一面大致朝向测试窗，边观察软件测试画面边通过移动平台滑轨微调测试位置

进而达到测试要求位置

11.调整焦距：使用仪器左侧焦距调整旋钮，使得软件测试画面尽可能清晰

12.开始测量：---开始测试图标，进行样品测试或者按动仪器前面板测试按钮进行样品测试

13.数据报告：对测量的数据结果进行对比和分析，判断数据是否正常，若出现异常可进行多次测量排除偶然误差

14.生成报告：---预览报告可以对测试报告内容和格式进行调整，还可以电子版保存报告和直接打印纸质报告

15.整理反馈：对测试结果进行分析和整理，可通过给出测试报告的形式与客户进行沟通和反馈

一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集，---efp算法  x射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，led和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.efp算法结合---定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

常规镀层厚度分析仪的原理

对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，测厚仪，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在有关和---中称为覆层（coating）。覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程检测的重要一环，是产品达到优等标准的---手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。

覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，测厚仪厂家，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，x射线荧光法，光谱膜厚仪，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。

江苏一六仪器   x射线荧光光谱仪xtu/x-ray系列 

技术参数

x射线装置：w靶微---加强型射线管

准直器φ 0.05 mm  ；φ 0.1 mm；φ 0.2 mm；φ 0.5 mm； 准直器任意选择或者任意切换

近测距光斑扩散度：9%

测量距离：具有距离补偿功能，可改变测量距离，能测量凹凸异型样品，变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)

样品观察：1/2.5彩色ccd，变焦功能对焦方式高敏感镜头，手动对焦

放大倍数：光学38-46x，数字放大40-200倍

随机标准片：十二元素片、ni/fe 5um、au/ni/cu 0.1um/2um 

其它附件：联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱

光谱膜厚仪-测厚仪-一六仪器有限公司(查看)由江苏一六仪器有限公司提供。“测厚仪,标准片”就选江苏一六仪器有限公司，公司位于：江苏省昆山市玉山镇成功路168号，多年来，一六仪器坚持为客户提供好的服务，联系人：邓女士。欢迎广大新老客户来电，来函，亲临指导，洽谈业务。一六仪器期待成为您的长期合作伙伴！

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