一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集，---efp算法 x射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件，测厚仪，led和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.efp算法结合---定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
这些方法中---种是有损检测，膜厚测试仪，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。x射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有源，使用者必须遵守射线防护规范。x射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
随着技术的日益进步，---是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且---，是工业和科研使用广泛的测厚仪器。采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。
江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们---研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名---通力合作，研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪。广泛应用于电子元器件、led和照明、家用电器、通讯、汽车电子等制造领域。
荧光x射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素量分析。但是由于影响荧光x射线的强度的因素较多，电镀测厚仪，除待测元素的浓度外，仪器校正因子，待测元素x射线荧光强度的测定误差，元素间吸收增加效应校正，样品的物理形态（如试样的均匀性、厚度，表面结构等）等都对定了分析结果产生影响。由于受样品的基体效应等影响较大，因此，对于标注样品要求很严格，只有标准样品与实际样品集体和表面状态相似，才能---定量结果的准确性。
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(ci)- ---(u) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um
江苏一六仪器 x荧光测厚仪测试要求：
工作要求：
1 环境温度要求：15℃-30℃
2 环境相对湿度：<70%
3 工作电源：交流220±5v
4 周围不能有强电磁干扰。
5 max功率 ：330w
6 外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （长x宽x高）
7 样品仓尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （长x宽x高）
8 仪器重量 ：55kg
9 分析软件efp，可同时分析23层镀层，24种元素，光谱测厚仪，不同层有相同元素也可分析
10 软件操作人性化封闭软件，自动提示校正和步骤，避免操作错误
11 x射线装置：w靶微---加强型射线管
电镀测厚仪-测厚仪-一六仪器(查看)由江苏一六仪器有限公司提供。“测厚仪,标准片”就选江苏一六仪器有限公司，公司位于：江苏省昆山市玉山镇成功路168号，多年来，一六仪器坚持为客户提供好的服务，联系人：邓女士。欢迎广大新老客户来电，来函，亲临指导，洽谈业务。一六仪器期待成为您的长期合作伙伴！
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