涂层测厚仪-测厚仪-江苏一六仪器有限公司

江苏一六仪器 xtu系列 xtu-bl x荧光光谱仪

仪器规格：

   外形尺寸 ：550 mm x 660mm x 470 mm （长x宽x高）

   样品仓尺寸 ：500mm×660 mm ×215mm （长x宽x高）

   仪器重量 ：55kg

   供电电源 ：交流220±5v

   功率 ：330w

   环境温度：15℃-30℃

   环境相对湿度：<70%

edx是借助于分析试样发出的元素特征x射线波长和强度实现的， 根据不同元素特征x射线波长的不同来测定试样所含的元素。通过对比不同元素谱线的强度可以测定试样中元素的含量。通常edx结合电子显微镜使用，可以对样品进行微区成分分析。

常用的edx探测器是硅渗锂探测器。当特征x射线光子进入硅渗锂探测器后便将硅原子电离，涂层测厚仪，产生若干电子-空穴对，其数量与光子的能量成正比。利用偏压收集这些电子空穴对，经过一系列转换器以后变成电压脉冲供给多脉冲高度分析器，并计数能谱中每个能带的脉冲数。

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江苏一六仪器  x射线荧光镀层测厚仪

---势：

   下照式设计：可以快速方便地定位对焦样品。

   无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽---范围0-90mm。

   微---射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。

   jie shou 器：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。

   efp---算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒efp算法软件。

统计计算功能平均值、标准偏差、相对标准偏差、max值、min值、数据变动范围、cp、数据编号、cpk、控制上限图、控制下限图数据分组、x-bar/r图表直方图数据库存储功能

-系统安全监测功能z轴保护传感器样品室门开闭传感器操作系统多级密码操作系统:操作员、分析员、----任选软件统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书液体样品分析，如镀液中的金属元素含量材料鉴别和分类检测材料和合金元素分析检测。