电镀测厚仪-测厚仪-一六仪器1

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um

（一）、内部结构

   x荧光光谱测厚仪机型很多，但是其内部结构如果先天不足，后期的外部结构无论自动化多高，测厚仪，也无法完全满足客户需求。内部结构重要的3点：

1、x荧光发射和ccd观测是否同步和垂直？

2、测试样品是否可以变化测头到样品的距离？

3、x光照射面积从出口到样品的扩散情况。

（二）、各种内部结构的优缺点

   1、x荧光发射和ccd观测样品只有同步且垂直才不会因为样品的高低深浅变化而改变测试到样品的位置，才能---定位---，镀层膜厚仪，同时减少与探测器或计数器的夹角，夹角小测试时

受样品曲面或者倾斜影响小。

2、测试样品距离可变化才能测试高低不平带凹槽的样品工件，膜厚测试仪，同时也---好平面样品的测试。但是它需要配备变焦镜头和变焦

补偿射线的算法。

3、x光照射面积从出口到样品的扩散过于---会导致无法测试样品工件上较小的平面位置，如果减小出口（准直器直径），又会---耗损x光的强度。

因此一台此类仪器的小准直器不是关键，但是测试面积却是个重要的指标。

江苏一六仪器  x射线荧光镀层测厚仪

---势：

   下照式设计：可以快速方便地定位对焦样品。

   无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽---范围0-90mm。

   微---射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。

   jie shou 器：即使测试0.01mm2以下的样品，电镀测厚仪，几秒钟也能达到稳定性。

   efp---算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒efp算法软件。

统计计算功能平均值、标准偏差、相对标准偏差、max值、min值、数据变动范围、cp、数据编号、cpk、控制上限图、控制下限图数据分组、x-bar/r图表直方图数据库存储功能

-系统安全监测功能z轴保护传感器样品室门开闭传感器操作系统多级密码操作系统:操作员、分析员、----任选软件统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书液体样品分析，如镀液中的金属元素含量材料鉴别和分类检测材料和合金元素分析检测。