涂层测厚仪-测厚仪-一六仪器

      江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们---研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名---通力合作，研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪

       x荧光涂镀层测厚仪测试原理

同样，l层电子被逐出可以产生l系辐射。如果入射的x 射线使某元素的k层电子激发成光电子后l层电子跃迁到k层，涂层测厚仪，此时就有能量δe释放出来，且δe=ek-el，这个能量是以x射线形式释放，产生的就是kα 射线，同样还可以产生kβ射线 ，测厚仪，l系射线等。莫斯莱(h.g.moseley) 发现，荧光x射线的波长λ与元素的原子序数z有关，镀层测厚仪，其数学关系如下: λ=k(z-s)-2 这就是莫斯莱定律，式中k和s是常数，因此，只要测出荧光x射线的波长，就可以知道元素的种类，这就是荧光x射线定性分析的基础。此外，荧光x射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um

x射线荧光镀层厚度分析仪基本原理

x射线荧光就是被分析样品在x射线照射下发出的x射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对x射线荧光的分析确定被测样品中各组分含量的仪器就是x射线荧光分析仪。由原子物理学的知识，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以其特有的能量在各自的固定轨道上运行。内层电子在足够能量的x射线照射下脱离原子的束缚，成为自由电子，这时原子被激发了，处于激发态。此时，其他的外层电子便会填补这一空位，即所谓的跃迁，同时以发出x射线的形式放出能量。

x射线荧光镀层厚度分析仪基本原理

由于每一种元素的原子能级结构都是特定的，它被激发后跃迁时放出的x射线的能量也是特定的，称之为特征x射线。通过测定特征x射线的能量，便可以确定相应元素的存在，而特征x射线的强弱（或者说x射线光子的多少）则代表该元素的含量。