涂层测厚仪-一六仪器1-淮南测厚仪

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    2020-10-1

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一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集,---efp算法  x射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件,镀层分析仪,led和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.efp算法结合---定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

软件算法


?大致分为3个方法。一个是制作测量线的方法(经验系数法)。这个方法是测定几点实际的已知厚度样品,寻求想测定元素的荧光x射线强度和厚度之间的关系,以其结果为基础测定未知样品取得荧光x射线,从而得到浓度值。

?另一个方法是理论演算的基础参数法(fp法)。这个方法在完全了解样品的构成和元素种类前提,利用计算的各个荧光x射线强度的理论值,推测测定得到未知样品各个元素的荧光x射线强度的组成一致。

?nbs-gsc法也称作理论alpha系数法。它是基于荧光x射线激发的基本原理,从理论上使用基本物理参数计算出样品中每个元素的一次和二次特征x射线荧光强度的。基于此再计算lachance综合校正系数,然后使用这些理论α系数去校正元素间的吸收增强。它与经验系数法不同,这些校正系数是从“理论”上取得的,而非建立在“经验”上。因而它也不需要那么多的标样,只要少数标样来校准仪器因子。









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能量色散x荧光光谱仪定义及原理

x射线荧光光谱仪是一种可以对多元素进行快速同时测定的仪器。试样受x射线照射后,其中各元素原子的内壳层(k,l或m层)电子被激发逐出原子而引起电子跃迁,并发射出该元素的特征x射线荧光。每一种元素都有其特定波长的特征x射线。能散型x射线荧光光谱仪(edxrf)利用荧光x射线具有不同能量的特点,由探测器本身的能量分辨本领来分辨探测到的x射线。


      江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们---研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名---通力合作,研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪

       x荧光涂镀层测厚仪测试原理

同样,l层电子被逐出可以产生l系辐射。如果入射的x 射线使某元素的k层电子激发成光电子后l层电子跃迁到k层,此时就有能量δe释放出来,膜厚测试仪,且δe=ek-el,这个能量是以x射线形式释放,产生的就是kα 射线,同样还可以产生kβ射线 ,l系射线等。莫斯莱(h.g.moseley) 发现,荧光x射线的波长λ与元素的原子序数z有关,其数学关系如下: λ=k(z-s)-2 这就是莫斯莱定律,淮南测厚仪,式中k和s是常数,因此,涂层测厚仪,只要测出荧光x射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光x射线定性分析的基础。此外,荧光x射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。


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