江苏一六仪器 x荧光光谱测厚仪
下照式设计:可以快速方便地定位对焦样品。
无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测,凹槽---范围0-90mm。
微---射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品,可测试各微小的部件。
接收:即使测试0.01mm2以下的样品,几秒钟也能达到稳定性。
精密微型滑轨:快速---定位样品。
efp---算法软件:多层多元素,甚至有同种元素在不同层也难不倒efp算法软件。
江苏一六仪器 x射线荧光光谱测厚仪
产品配置
x光金属镀层测厚仪标准配置为:x射线管,正比计数器﹨半导体探测器,高清---头,高度激光,信号检测电子电路。
性能指标
x射线激发系统 垂直上照式x射线光学系统
空冷式微---型x射线管,be窗
标准靶材:rh靶;任选靶材:w、mo、ag等
x射线管:管电压50kv,管电流1ma
可测元素:ci~u
检测器:正比计数管
样品观察:ccd---头
测定软件:薄膜fp法、检量线法
z轴程控移动高度 20mm
江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们---研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名---通力合作,研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪
x荧光涂镀层测厚仪测试原理
同样,l层电子被逐出可以产生l系辐射。如果入射的x 射线使某元素的k层电子激发成光电子后l层电子跃迁到k层,此时就有能量δe释放出来,且δe=ek-el,这个能量是以x射线形式释放,产生的就是kα 射线,镀层分析仪,同样还可以产生kβ射线 ,l系射线等。莫斯莱(h.g.moseley) 发现,光谱分析仪,荧光x射线的波长λ与元素的原子序数z有关,电镀膜厚仪,其数学关系如下: λ=k(z-s)-2 这就是莫斯莱定律,浙江测厚仪,式中k和s是常数,因此,只要测出荧光x射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光x射线定性分析的基础。此外,荧光x射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。
江苏一六仪器有限公司(图)-电镀膜厚仪-浙江测厚仪由江苏一六仪器有限公司提供。行路致远,---。江苏一六仪器有限公司致力成为与您共赢、共生、共同前行的---,与您一起飞跃,共同成功!
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