镀层分析仪-测厚仪-江苏一六仪器有限公司

江苏一六仪器  涂镀层研发、生产、销售---企业。其中稳定的多道脉冲分析采集系统、---的解谱方法和efp算法结合---定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。

单镀层：zn， ni，cr，cu，ag，au，sn等。

双镀层：au/ni/cu，cr/ni/cu，au/ag/ni，sn/cu/brass，等等。

三镀层：au/ni/cu/abs，au/ag/ni/cu， au/ni/cu/fe，等等

一、功能

1. 采用 x 射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度，测量方法满足

gb/t 16921-2005 标准（等同 iso3497：2000、 astm b568 和 din50987）。

2.  镀层层数：多至 5 层。

3. 测量点尺寸：圆形测量点，镀层膜厚仪，直径约 0.2—0.8毫米。

4. 测量时间：通常 30 秒。

5. 测量误差：通常小于 5%，视样品具体情况而定。

6. 可测厚度范围：通常 0.01 微米到 30 微米，视样品组成和镀层结构而定。

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um

（一）、内部结构

   x荧光光谱测厚仪机型很多，但是其内部结构如果先天不足，后期的外部结构无论自动化多高，也无法完全满足客户需求。内部结构重要的3点：

1、x荧光发射和ccd观测是否同步和垂直？

2、测试样品是否可以变化测头到样品的距离？

3、x光照射面积从出口到样品的扩散情况。

（二）、各种内部结构的优缺点

   1、x荧光发射和ccd观测样品只有同步且垂直才不会因为样品的高低深浅变化而改变测试到样品的位置，才能---定位---，同时减少与探测器或计数器的夹角，夹角小测试时

受样品曲面或者倾斜影响小。

2、测试样品距离可变化才能测试高低不平带凹槽的样品工件，同时也---好平面样品的测试。但是它需要配备变焦镜头和变焦

补偿射线的算法。

3、x光照射面积从出口到样品的扩散过于---会导致无法测试样品工件上较小的平面位置，如果减小出口（准直器直径），又会---耗损x光的强度。

因此一台此类仪器的小准直器不是关键，但是测试面积却是个重要的指标。