一六仪器x射线荧光测厚仪 研发生产厂家 品质---
江苏一六仪器有限公司研发的能量色散x荧光光谱仪具有稳定的多道脉冲分析采集系统、---的解谱方法和efp算法结合---定位及变焦结构设计,电镀测厚仪,解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析,欢迎来电咨询!
x射线荧光分析仪的不断完善和发展所带动的x 射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、---、考古等诸多部门和领域。x 射线荧光光谱分析不仅成为对其物质的化学元素、物相、化学立体结构、物证材料进行试测,光谱测厚仪,对产品和材料进行无损检测,对人体进检和微电路的光刻检验等的重要分析手段,也是材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一种快速、准确而又经济的多元素分析方法。同时,x 射线荧光光谱仪也是野外现场分析和过程控制分析等方面shou xuan器之一。
江苏一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集 ---efp算法
膜厚仪又名膜厚测试仪分为手持式和台式二种,手持式又有磁感应镀层测厚仪,电涡流镀层测厚仪,荧光x射线仪镀层测厚仪。
手持式的磁感应原理是,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,淮北测厚仪,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。
台式的荧光x射线膜厚仪,是通过一次x射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子,俗称为二次荧光,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。
江苏一六仪器 x射线荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
---势:
下照式设计:可以快速方便地定位对焦样品。
无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测,凹槽---范围0-90mm。
微---射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品,可测试各微小的部件。
测厚仪
测厚仪(thickness gauge )是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度(如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料)。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的性厚度计;有利用超声波频率变化的超声波厚度计;有利用涡流原理的电涡流厚度计;还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。
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