江苏一六仪器 我们---研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名---通力合作,研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、---的解谱方法和efp算法结合---定位及变焦结构设计,测厚仪厂家,解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。
-样品观察系统高分辨、彩色、实时ccd观察系统,标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。激光辅助光自动对焦功能可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
7计算机系统配置ibm计算机:1.6g奔腾iv处理器,256m内存,1.44m软驱,40g硬盘,cd-rom,鼠标,键盘,17寸彩显,56k调制解调器。惠普或爱普生彩色喷墨打印机。
8分析应用软件操作系统:windows2000中文平台中文分析软件包:smartlinkfp软件包
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(ci)- ---(u) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
工业x射线镀层厚度分析仪以其快速、无损、现场测量等优点,已在冶金、建材、地质、、商检、考古、医学等领域得到迅速推广和应用。近几年来x射线荧光仪已在工业镀层及涂层厚度测量中应用越来越广泛。众所周知,产品和金属元件表面镀层或防腐层厚度是与产品与性能相关的重要指标。实验表明使用同位素x射线荧光分析方法,能够满足工业镀层和涂层厚度的分析要求,镀层分析仪,并且具有无损、在线、简便快速、可实现自动控制等特点。
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(ci)- ---(u) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
(一)、外部结构原理图
x荧光做镀层分析时,根据射线是而下照射样品,还是至下而上照射样品的方式,将x荧光分析仪的外部整体结构分为:上照射和下照射两种结构。
(二)、各种外部结构的特点
1、上照射方式
用于照射(激发)的x射线是采用由上往下照射方式的设备称为上照射仪器。此类设备的z轴为可移动方式,用于确定射线照射光斑的焦点,---测量的准确性。
、z轴的移动方式
根据z轴的移动方式,分为自动和手动两类;
自动型的设备完全由程序与自动控制装置实现,其光斑对焦的重现性与准确度都---,电镀膜厚仪,而且使用非常简便(一般是与图像采集系统与控制系统相结合的方式),一般只需要用鼠标在图像上---一下即可定位。此类设备对于测试形状各异的样品非常方便,也是目前主流的分析设备类型。
手动型设备,一般需要用人观察图像的方式,根据参考斑点的位置,手动上下调节z轴方向,以达到准确对焦的目的。因此,往往在测试对象几何结构基本上没有变化的情况下使用比较快捷。、x、y轴水平移动方式
水平移动方式一般分为:无x、y轴移动装置;手动x、y轴移动装置;电动x、y轴移动装置;全程控自动x、y轴移动装置。
这几类的设备都是根据客户实际需要而设计的,测厚仪,例如:使用无x、y轴移动装置的也很多,结构简单,样品水平移动完全靠手动移动,这种设备适合于样品面积较大,定位比较容易的测试对象。
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