江苏一六仪器有限公司 镀层测厚检测 欢迎来电详询!
x射线荧光光谱分析可以非破坏性同时完成组分和厚度测试,厚度的测量范围视材料和元素而定,通常在1nm-50um之间。x射线荧光光谱法分析镀层与其常规定量分析法相比较,被测元素的特征x射线荧光强度不仅与镀层中待测元素和基材的组成有关,而且与厚度直接相关。能量色散x射线荧光光谱分析相对其他分析方法,具有无需对样品进行---的化学处理、快速,方便,测量成本低等明显优势,---适合用于各类相关企业作为过程控制和检测使用。是目前应用为广泛,荧光测厚仪,具有速度快、无损化以及可实现多镀层同时分析等特点。
江苏一六仪器 涂镀层研发、生产、销售---企业。其中稳定的多道脉冲分析采集系统、---的解谱方法和efp算法结合---定位及变焦结构设计,解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。
单镀层:zn, ni,cr,cu,ag,au,蚌埠测厚仪,sn等。
双镀层:au/ni/cu,镀层测厚仪,cr/ni/cu,涂层测厚仪,au/ag/ni,sn/cu/brass,等等。
三镀层:au/ni/cu/abs,au/ag/ni/cu, au/ni/cu/fe,等等
一、功能
1. 采用 x 射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度,测量方法满足
gb/t 16921-2005 标准(等同 iso3497:2000、 astm b568 和 din50987)。
2. 镀层层数:多至 5 层。
3. 测量点尺寸:圆形测量点,直径约 0.2—0.8毫米。
4. 测量时间:通常 30 秒。
5. 测量误差:通常小于 5%,视样品具体情况而定。
6. 可测厚度范围:通常 0.01 微米到 30 微米,视样品组成和镀层结构而定。
江苏一六仪器 x荧光光谱测厚仪 涂镀层测厚
应用领域:广泛应用于线路板、引线框架及电子元器件接插件检测、镀纯金、k金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析、手表、精密仪表制造行业、
钕铁硼磁铁上的ni/cu/ni/fendb、汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测、卫浴产品、装饰把手上的cr/ni/cu/cuzn(abs)、电镀液的金属阳离子检测。
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