测厚仪-一六仪器有限公司-膜厚测试仪

江苏一六仪器   x射线荧光镀层测厚仪

仪器简介

      xtu系列测厚仪虽然结构紧凑，但是都有大容量的开槽设计样品腔，即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。

 搭配微---射线管和---的光路设计，以及变焦算法装置，可测试极微小和异形样品。

    检测78种元素镀层·0.005um检出限·测量面积可达0.002mm2·深凹槽可达90mm。

     外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动，电镀膜厚仪，移动精度0.005mm，速度10-30mm（x-y）/圈，再小再多的样品测试都没有难度，让操作人员轻松---。

  线路板、引线框架及电子元器件接插件检测

  镀纯金、k金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析

  手表、精密仪表制造行业

  钕铁硼磁铁上的ni/cu/ni/fendb        

  汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测

  卫浴产品、装饰把手上的cr/ni/cu/cuzn(abs)

  电镀液的金属阳离子检测

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um

（一）、外部结构原理图

x荧光做镀层分析时，根据射线是而下照射样品，还是至下而上照射样品的方式，将x荧光分析仪的外部整体结构分为：上照射和下照射两种结构。

（二）、各种外部结构的特点

1、上照射方式

   用于照射(激发)的x射线是采用由上往下照射方式的设备称为上照射仪器。此类设备的z轴为可移动方式，用于确定射线照射光斑的焦点，---测量的准确性。

、z轴的移动方式

   根据z轴的移动方式，分为自动和手动两类；

自动型的设备完全由程序与自动控制装置实现，其光斑对焦的重现性与准确度都---，而且使用非常简便（一般是与图像采集系统与控制系统相结合的方式），一般只需要用鼠标在图像上---一下即可定位。此类设备对于测试形状各异的样品非常方便，也是目前主流的分析设备类型。

、x、y轴水平移动方式

水平移动方式一般分为：无x、y轴移动装置；手动x、y轴移动装置；电动x、y轴移动装置；全程控自动x、y轴移动装置。

这几类的设备都是根据客户实际需要而设计的，例如：使用无x、y轴移动装置的也很多，结构简单，样品水平移动完全靠手动移动，这种设备适合于样品面积较大，定位比较容易的测试对象。