一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集,---efp算法 x射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件,led和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.efp算法结合---定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
薄膜是指在基板的垂直方向上所堆积的1~104的原子层或分子层。在此方向上,薄膜具有微观结构。
理想的薄膜厚度是指基片表面和薄膜表面之间的距离。由于薄膜仅在厚度方向是微观的,其他的两维方向具有宏观大小。所以,表示薄膜的形状,一定要用宏观方法,即采用长、宽、厚的方法。因此,膜厚既是一个宏观概念,又是微观上的实体线度。
由于实际上存在的表面是不平整和连续的,而且薄膜内部还可能存在着、杂质、晶格缺陷和表面吸附分子等,所以,要严格地定义和测量薄膜的厚度实际上是比较困难的。膜厚的定义应根据测量的方法和目的来决定。
---模型认为物质的表面并不是一个抽象的几何概念,而是由刚性球的原子(分子)紧密排列而成,是实际存在的一个物理概念。
形状膜厚:dt是接近于直观形式的膜厚,通常以um为单位。dt只与表面原子(分子)有关,并且包含着薄膜内部结构的影响;
膜厚:dm反映了薄膜中包含物质的多少,通常以μg/cm2为单位,它消除了薄膜内部结构的影响(如缺陷、、变形等);
物性膜厚:dp在实际使用上较有用,而且比较容易测量,它与薄膜内部结构和外部结构无直接关系,主要取决于薄膜的性质(如电阻率、透射率等)。
江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们---研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名---通力合作,研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪
一六仪器 x荧光光谱测厚仪
镀层分析x射线荧光光谱特点
1.镀层分析快速、无损,涂层测厚仪,对样品无需任何处理。一般测试一个点只需要数10s-1分钟,测厚仪,分析精度高。
2.可测试超薄的镀层。
3.可测试多镀层,分析精度远远高于其他测量方法。
4.可分析合金镀层厚度。如果合金镀层成分稳定,选择合适的对比分析样品,就可以准确的分析出合金镀层的厚度。
5.对于样品可进行连续多点测量,光谱膜厚仪,适合分析镀层的厚度分布情况,并可以对样品的复杂面进行测量。
6.对分析的多镀层每层之间的材料,要求有明显的区别
7.不可以测试超厚样品,普通金属镀层总厚度一般不超过40微米。
8.可以对样品进行测试
9.属于对比分析仪器,测试不同的镀层样品需要不同发镀层标样
一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集,---efp算法 x射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件,led和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.efp算法结合---定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
在我们的售前服务工作中,客户通常都会拿一些在其它机构或者仪器测量过的样品来与我们仪器进行测试结果对比,在确认双方仪器都是正常的情况下,会存在或多或少的差异,那么我们务---把这个差异的来源分析给客户,我们在分析之前首先要给客户解说测试的基本原理,告知此仪器为对比分析测试仪器,然后再谈误差来源,主要来源:
1、标样:对比分析仪器是要求有越接近于需测试样品的标样,测试结果越接近实际厚度。确认双方有没有在标定和校正时使用标样?使用的是多少厚度的标样?
2、样品材料的详细信息:如ni/cu的样品,如果一家是按化学ni测试,电镀测厚仪,一家是按纯ni测试;au/ni/cu/pcb样品,一款仪器受br干扰,一款仪器排除了br干扰。
3、测量位置、面积:确定在同一样品上测试的是否同一位置,因为样品在电镀时因电位差不同,各部位厚度是有差异的;确认两款仪器测量面积的大小有多少差异。
4、样品形状:测量的样品是否是两款仪器都可测量,或者放置位置是否合适,如---面有无挡住设备接收。
涂层测厚仪-测厚仪-一六仪器有限公司(查看)由江苏一六仪器有限公司提供。江苏一六仪器有限公司(www.16elite.com)为客户提供“测厚仪,标准片”等业务,公司拥有“江苏一六仪器”等品牌,---于---仪器仪表等行业。欢迎来电垂询,联系人:邓女士。
联系我们时请一定说明是在100招商网上看到的此信息,谢谢!
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