江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。我们---研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名---通力合作,研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、---的解谱方法和efp算法结合---定位及变焦结构设计,光谱测厚仪,解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
目前,金属镀层常用的分析方法有湿化学电解分析、辉光放电---发射光谱分析(gd-oes)和x射线荧光光谱仪等。湿化学电解分析需选用适当溶剂溶解选定的镀层,镀层膜厚仪,逐层溶解并进行测定,方法准确但费时费力,尤其是相关特定溶剂的选择也非常复杂,价格又贵,属于典型破坏性样品检测,测量手段手段繁琐,速度慢,涂层测厚仪,电解液耗损大,目---般很少应用。gd-oes方法用惰性原子逐层轰击及剥离试样表层,南通测厚仪,再用发射光谱测定,这种方法可实现剖面或逐层分析,但测量重复性并不理想。
江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们---研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名---通力合作,研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪
x荧光涂镀层测厚仪测试原理
同样,l层电子被逐出可以产生l系辐射。如果入射的x 射线使某元素的k层电子激发成光电子后l层电子跃迁到k层,此时就有能量δe释放出来,且δe=ek-el,这个能量是以x射线形式释放,产生的就是kα 射线,同样还可以产生kβ射线 ,l系射线等。莫斯莱(h.g.moseley) 发现,荧光x射线的波长λ与元素的原子序数z有关,其数学关系如下: λ=k(z-s)-2 这就是莫斯莱定律,式中k和s是常数,因此,只要测出荧光x射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光x射线定性分析的基础。此外,荧光x射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(ci)- ---(u) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
镀层厚度分析仪根据测量原理一般有以下五种类型:
1.磁性测厚法
适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢、铁、银、镍。此种方法测量精度高。
2.涡流测厚法
适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种方法较磁性测厚法精度低。
3.超声波测厚法
目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵,测量精度也不高。
4.电解测厚法
此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层。一般精度也不高。测量起来较其他几种麻烦。
5.测厚法
此种仪器价格昂贵,适用于一些特殊场合。
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