测厚仪-江苏一六仪器有限公司-镀层分析仪

江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。我们---研发团队具备十年以上的从业经验，测厚仪，经与海内外多名---通力合作，研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、---的解谱方法和efp算法结合---定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

目前，金属镀层常用的分析方法有湿化学电解分析、辉光放电---发射光谱分析（gd-oes）和x射线荧光光谱仪等。湿化学电解分析需选用适当溶剂溶解选定的镀层，逐层溶解并进行测定，方法准确但费时费力，尤其是相关特定溶剂的选择也非常复杂，光谱测厚仪，价格又贵，属于典型破坏性样品检测，测量手段手段繁琐，速度慢，电解液耗损大，目---般很少应用。gd-oes方法用惰性原子逐层轰击及剥离试样表层，再用发射光谱测定，这种方法可实现剖面或逐层分析，但测量重复性并不理想。

      江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们---研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名---通力合作，研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪

       x荧光涂镀层测厚仪测试原理

同样，l层电子被逐出可以产生l系辐射。如果入射的x 射线使某元素的k层电子激发成光电子后l层电子跃迁到k层，此时就有能量δe释放出来，镀层测厚仪，且δe=ek-el，这个能量是以x射线形式释放，产生的就是kα 射线，同样还可以产生kβ射线 ，l系射线等。莫斯莱(h.g.moseley) 发现，荧光x射线的波长λ与元素的原子序数z有关，其数学关系如下: λ=k(z-s)-2 这就是莫斯莱定律，式中k和s是常数，因此，只要测出荧光x射线的波长，就可以知道元素的种类，镀层分析仪，这就是荧光x射线定性分析的基础。此外，荧光x射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。