测厚仪-一六仪器有限公司-涂层测厚仪

江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。我们---研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名---通力合作，研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、---的解谱方法和efp算法结合---定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

目前，金属镀层常用的分析方法有湿化学电解分析、辉光放电---发射光谱分析（gd-oes）和x射线荧光光谱仪等。湿化学电解分析需选用适当溶剂溶解选定的镀层，逐层溶解并进行测定，方法准确但费时费力，尤其是相关特定溶剂的选择也非常复杂，价格又贵，属于典型破坏性样品检测，测量手段手段繁琐，速度慢，电解液耗损大，目---般很少应用。gd-oes方法用惰性原子逐层轰击及剥离试样表层，再用发射光谱测定，这种方法可实现剖面或逐层分析，但测量重复性并不理想。

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素   厚度检出限:0.005um

江苏一六仪器        x射线荧光测厚仪工作原理 

     当原子受到x射线光子(原级x射线)或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空位，原子内层电子重新配位，测厚仪，较外层的电子跃迁到内层电子空位，并同时出次级x射线光子，此即x射线荧光。较外层电子跃迁到内层电子空位所释放的能量等于两电子能级的能量差，因此，x射线荧光的波长对不同元素是特征的，根据元素x射线荧光特征波长对元素做定性分析，光谱测厚仪，根据元素释放出来的荧光强度，来进行定量分析如元素厚度或含量分析。

   根据色散方式不同，x射线荧光分析仪相应分为x射线荧光光谱仪(波长色散)和x射线荧光能谱仪(能量色散)。x射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级x射线。它由高压发生器和x光管组成。后者功率较大，用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的x射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。通过测角器以1∶2速度转动分析晶体和探测器，可在不同的布拉格角位置上测得不同波长的x射线而作元素的定性分析。探测器的作用是将x射线光子能量转化为电能，常用的有盖格计数管、正比计数管、闪烁计数管、半导体探测器等。记录单元由放大器、脉冲幅度分析器、显示部分组成。通过定标器的脉冲分析信号可以直接输入计算机，进行联机处理而得到被测元素的含量。