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激光测厚仪技术指标:
可测范围:0~500mm
较:0.5μm
测量速度:较高9400hz
测量距离:10~200mm
被测体水平方向运动速度较高560m/min
江苏一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集 ---efp算法
膜厚仪又名膜厚测试仪分为手持式和台式二种,连云港测厚仪,手持式又有磁感应镀层测厚仪,电涡流镀层测厚仪,荧光x射线仪镀层测厚仪。
手持式的磁感应原理是,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。
台式的荧光x射线膜厚仪,是通过一次x射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子,俗称为二次荧光,涂层测厚仪,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。
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x射线测厚仪测量精度的影响因素有哪些
首先,是x射线的高压控制箱会对测量的精度造成一定的影响。x射线测厚仪的测量原理就是通过施加高压电源出x射线,通过x射线的穿透物体时的衰减量来测量被测物体的厚度。但是高压控制箱的安装位置会对测厚仪的准确度造成一定的影响。安装的位置不当就会使测量的精度不准确波动比较明显。另外,x射线本身的衰减也会影响测厚仪的测量精度。
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