光谱测厚仪-一六仪器1-日照测厚仪

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素   厚度检出限:0.005um

江苏一六仪器  x射线荧光镀层测厚仪应用领域   

     集成电路是---首要突破的行业，现代制造业的发展，集成电路是基础。如果---电路板生产的，电镀检测重中之重！x射线荧光膜厚测厚仪为集成电路的发展，pcb线路板加工业的保驾---。价格一直是客户在购买时关心的问题，好和售后服务的产品在价格上面往往比较高，所以客户在选择产品时选择---的就需要一定的了解，首先是品牌，其次是客户调查，售后服务等。x射线荧光膜厚测厚仪可用于电力行业高压开关柜所用的镀银件厚度测试，光谱测厚仪，镀锡测试。也可以用于首饰类产品的镀银层测厚，pcb线路板的镀银厚度分析。 的详细信息x射线荧光膜厚测厚仪可用于电力行业高压开关柜所用的镀银件厚度测试，光谱膜厚仪，镀锡测试。也可以用于首饰类产品的镀银层测厚，pcb线路板的镀银厚度分析。

      x射线荧光膜厚测厚仪已经成为电力行业，pcb行业，首饰行业的镀层分析的常规手段，比传统的电解法测厚仪具有更快的测试速度和分析精度，也比切片法具有更快的分析效率。

     江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们---研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名---通力合作，研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪

  x射线荧光光谱测厚仪原理

    一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为 (10)-12-(10)-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，镀层膜厚仪，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时，所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，此称为俄歇效应，亦称次级光电效应或无辐射效应，所逐出的次级光电子称为俄歇电子。

     它的能量是特征的，与入射辐射的能量无关。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生x射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。因此，x射线荧光的能量或波长是特征性的，与元素有一一对应的关系。 k层电子被逐出后，其空穴可以被外层中 任一电子所填充，日照测厚仪，从而可产生一系列的谱线，称为k系谱线:由l层跃迁到k层辐射的x射线叫kα射线，由m层跃迁到k层辐射的x射线叫kβ射线……。