镀层分析仪-一六仪器-杭州测厚仪

江苏一六仪器   x荧光光谱测厚仪 特点

快速：1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。

方便：x荧光光谱仪部分机型采用进口国际上---的电制冷半导体探测器，能量分辨率---于135ev，测试精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用方便，并且运行成本比同类的其他产品---。

无损：测试前后，样品无任何形式的变化。

直观：实时谱图，可直观显示元素含量。

测试范围广：x荧光光谱仪，是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析，抽真空可以测试从na到u。

---性高：由于测试过程无人为干扰因素，仪器自身分析精度、重复性与稳定性---。所以，其测量的---性更高。

满足不同需求：测试软件为windows操作系统软件，操作方便、功能---，软件可监控仪器状态，设定仪器参数，并就有多种---的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。

---：相比化学分析类仪器，x荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。

简易：对人员技术要求较低，操作简单方便，并且维护简单方便。

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素   厚度检出限:0.005um

江苏一六仪器  x射线荧光镀层测厚仪应用领域   

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      x射线荧光膜厚测厚仪已经成为电力行业，电镀测厚仪，pcb行业，首饰行业的镀层分析的常规手段，比传统的电解法测厚仪具有更快的测试速度和分析精度，也比切片法具有更快的分析效率。