江苏一六仪器 x射线荧光光谱仪xtu/x-ray系列
技术参数
x射线装置:w靶微---加强型射线管
准直器φ 0.05 mm ;φ 0.1 mm;φ 0.2 mm;φ 0.5 mm; 准直器任意选择或者任意切换
近测距光斑扩散度:9%
测量距离:具有距离补偿功能,可改变测量距离,能测量凹凸异型样品,涂层测厚仪,变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)
样品观察:1/2.5彩色ccd,变焦功能对焦方式高敏感镜头,手动对焦
放大倍数:光学38-46x,数字放大40-200倍
随机标准片:十二元素片、ni/fe 5um、au/ni/cu 0.1um/2um
其它附件:联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱
江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们---研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名---通力合作,研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪。广泛应用于电子元器件、led和照明、家用电器、通讯、汽车电子等制造领域。
荧光x射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素量分析。但是由于影响荧光x射线的强度的因素较多,除待测元素的浓度外,仪器校正因子,待测元素x射线荧光强度的测定误差,元素间吸收增加效应校正,样品的物理形态(如试样的均匀性、厚度,表面结构等)等都对定了分析结果产生影响。由于受样品的基体效应等影响较大,因此,对于标注样品要求很严格,只有标准样品与实际样品集体和表面状态相似,才能---定量结果的准确性。
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(ci)- ---(u) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,膜厚测试仪,24种元素 厚度检出限:0.005um
镀层厚度分析仪根据测量原理一般有以下五种类型:
1.磁性测厚法
适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢、铁、银、镍。此种方法测量精度高。
2.涡流测厚法
适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种方法较磁性测厚法精度低。
3.超声波测厚法
目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,镇江测厚仪,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵,测量精度也不高。
4.电解测厚法
此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层。一般精度也不高。测量起来较其他几种麻烦。
5.测厚法
此种仪器价格昂贵,适用于一些特殊场合。
涂层测厚仪-一六仪器1-镇江测厚仪由江苏一六仪器有限公司提供。“测厚仪,标准片”就选江苏一六仪器有限公司(www.16elite.com),公司位于:江苏省昆山市玉山镇成功路168号,多年来,一六仪器坚持为客户提供好的服务,联系人:邓女士。欢迎广大新老客户来电,来函,亲临指导,洽谈业务。一六仪器期待成为您的长期合作伙伴!
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