一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(ci)- ---(u) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um
（一）、内部结构
x荧光光谱测厚仪机型很多，但是其内部结构如果先天不足，后期的外部结构无论自动化多高，也无法完全满足客户需求。内部结构重要的3点：
1、x荧光发射和ccd观测是否同步和垂直？
2、测试样品是否可以变化测头到样品的距离？
3、x光照射面积从出口到样品的扩散情况。
（二）、各种内部结构的优缺点
1、x荧光发射和ccd观测样品只有同步且垂直才不会因为样品的高低深浅变化而改变测试到样品的位置，才能---定位---，同时减少与探测器或计数器的夹角，夹角小测试时
受样品曲面或者倾斜影响小。
2、测试样品距离可变化才能测试高低不平带凹槽的样品工件，青岛测厚仪，同时也---好平面样品的测试。但是它需要配备变焦镜头和变焦
补偿射线的算法。
3、x光照射面积从出口到样品的扩散过于---会导致无法测试样品工件上较小的平面位置，如果减小出口（准直器直径），镀层膜厚仪，又会---耗损x光的强度。
因此一台此类仪器的小准直器不是关键，光谱膜厚仪，但是测试面积却是个重要的指标。
江苏一六仪器 x荧光光谱测厚仪 涂镀层测厚
应用领域：广泛应用于线路板、引线框架及电子元器件接插件检测、镀纯金、k金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析、手表、精密仪表制造行业、
钕铁硼磁铁上的ni/cu/ni/fendb、汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测、卫浴产品、装饰把手上的cr/ni/cu/cuzn(abs)、电镀液的金属阳离子检测。
江苏一六仪器 我们---研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名---通力合作，研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、---的解谱方法和efp算法结合---定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。
-样品观察系统高分辨、彩色、实时ccd观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。激光辅助光自动对焦功能可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
7计算机系统配置ibm计算机:1.6g奔腾iv处理器，256m内存，1.44m软驱，40g硬盘，cd-rom，涂层测厚仪，鼠标，键盘，17寸彩显，56k调制解调器。惠普或爱普生彩色喷墨打印机。
8分析应用软件操作系统:windows2000中文平台中文分析软件包:smartlinkfp软件包
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