测厚仪-一六仪器有限公司-镀层分析仪

      江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们---研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名---通力合作，研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪

       x荧光涂镀层测厚仪测试原理

同样，膜厚测试仪，l层电子被逐出可以产生l系辐射。如果入射的x 射线使某元素的k层电子激发成光电子后l层电子跃迁到k层，镀层分析仪，此时就有能量δe释放出来，且δe=ek-el，这个能量是以x射线形式释放，产生的就是kα 射线，同样还可以产生kβ射线 ，l系射线等。莫斯莱(h.g.moseley) 发现，荧光x射线的波长λ与元素的原子序数z有关，其数学关系如下: λ=k(z-s)-2 这就是莫斯莱定律，式中k和s是常数，因此，只要测出荧光x射线的波长，就可以知道元素的种类，这就是荧光x射线定性分析的基础。此外，荧光x射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um

（一）、内部结构

   x荧光光谱测厚仪机型很多，但是其内部结构如果先天不足，后期的外部结构无论自动化多高，也无法完全满足客户需求。内部结构重要的3点：

1、x荧光发射和ccd观测是否同步和垂直？

2、测试样品是否可以变化测头到样品的距离？

3、x光照射面积从出口到样品的扩散情况。

（二）、各种内部结构的优缺点

   1、x荧光发射和ccd观测样品只有同步且垂直才不会因为样品的高低深浅变化而改变测试到样品的位置，测厚仪，才能---定位---，同时减少与探测器或计数器的夹角，夹角小测试时

受样品曲面或者倾斜影响小。

2、测试样品距离可变化才能测试高低不平带凹槽的样品工件，同时也---好平面样品的测试。但是它需要配备变焦镜头和变焦

补偿射线的算法。

3、x光照射面积从出口到样品的扩散过于---会导致无法测试样品工件上较小的平面位置，如果减小出口（准直器直径），又会---耗损x光的强度。

因此一台此类仪器的小准直器不是关键，但是测试面积却是个重要的指标。