镀层测厚仪|光谱测厚仪|x-ray测厚仪|x荧光测厚仪|凃层膜厚仪---一六仪器 欢迎咨询联系
x射线荧光是由原级x射线照射待测样品时所产生的次级x射线,镀层测厚仪,入射的x射线具有相对较大的能量,使其可以轰击出位于元素原子内层中的电子。x射线荧光光谱的波长在0.01-10纳米之间,能量在124kev-0.124kev之间。用于元素分析中的x射线荧光光谱波长的范围在0.01-11纳米之间,能量为0.111-0.124kev。
当x射线激发出试样特征x射线时,其入射电磁辐射能量必须大于某一个值才能引起其内层电子激发态从而形成空穴并引起电子的跃迁,这个值是吸收限,相当于内层电子的功函数。如果入射电磁辐射的能量低于吸收限则在任何情况下都不能激发原子内层电子并产生特征x射线。
一六仪器 ---通力合作打造---x荧光测厚仪
一六仪器研发生产的x荧光光谱仪,稳定的多道脉冲分析采集系统,---------和变距设计,涂层测厚仪,多元efp算法,简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例
测厚仪操作规程有哪些?测厚仪在使用过程中,如果操作不规范,很容易导致测厚仪出现故障及问题,因此我们在使用前都需要先了解下测厚仪的操作规范及一些常见问题的处理方法:
四.安全卫生
1、源需由专人保管;
2、应有妥善的保管场所(有防盗门、窗和放置源用的铁皮 柜,距生活区一米远);
3、长期不使用时,杭州测厚仪,应放置保管场所;
4、卫生
5、应定期清理主机和探头外表面,对源铅罐上表面也要定期清理。
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江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们---研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名---通力合作,研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、---的解谱方法和efp算法结合---定位及变焦结构设计,解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。
测厚仪介绍:可以用来在线测 量轧制后的板带材厚度,并以电讯号的形式输出。该电讯号输给显示器和自动厚度控制系统,以实现 对板带厚度的自动厚度控制(agc)。 目前常见的测厚仪有γ射线、β射 线、x射线及同位素射线等四种,其安放位置均在板带轧机的出口或入 口侧。设计、安装测厚仪时要在可能的条件下尽量靠近工作辊,目的是降低板厚的滞后调整时间。
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